2018.8.7
一案疲、工具用途:Genus進(jìn)行邏輯綜合
二祝沸、綜合的flow:基本流程矮烹,不加scanchain:
對(duì)上述flow的理解:
此處備注:
syn_generic:將RTl代碼映射到系統(tǒng)自帶邏輯庫(kù)
syn_map:映射到本地目的工藝庫(kù)
三越庇、三種Low_power的方法:
- 1.多工作模式Multi-VT library:SVT / HVT /LVT
在cell delay上:HVT > SVT > LVT ;在power上:HVT < SVT < LVT罩锐, 綜合時(shí)盡量使用HVT。 - 2.power gate:
- 3.clock gating:時(shí)鐘門控技術(shù):
通過關(guān)閉芯片中暫時(shí)用不到的功能和時(shí)鐘卤唉,從而實(shí)現(xiàn)節(jié)省電源功耗的問題涩惑。
數(shù)字功耗來源:1.靜態(tài)功耗:漏電流的影響
.........................2.動(dòng)態(tài)功耗:開關(guān)功耗和短路功耗。
..........開關(guān)功耗:電路在開關(guān)過程中對(duì)輸出節(jié)點(diǎn)的負(fù)載電容充放電所消耗的功耗桑驱。
..........短路功耗:在某個(gè)電壓輸入范圍內(nèi)竭恬,NMOS和PMOS管都導(dǎo)通,這時(shí)就 會(huì)出現(xiàn)電源 ............................到地的直流導(dǎo)通電流熬的,這就是開關(guān)過程中的短路功耗痊硕。
四、LEC:logic Equivalence check.
1.形式驗(yàn)證分類:1.等價(jià)性驗(yàn)證:其一RTL&netlist gate level,其二押框,gate level &gate level.
............................2.基于模型的驗(yàn)證:時(shí)態(tài)邏輯模型規(guī)范岔绸,受電路規(guī)模的影響。
............................3.基于定理的驗(yàn)證:時(shí)態(tài)和規(guī)范用公理證明
2.重要命令:
.......write_do_lec -golden_design rtl -revised_design > rtl_to_final.tcl/final.v
.......lec -dofile rtl_to_final.tcl
3.做lec一般有兩種方法,一種是你在做綜合的時(shí)候盒揉,順便就生成dofile晋被,以備LEC。 另一種就是直接寫腳本來做刚盈,一般流程是:1羡洛,設(shè)置golden和revised file ; 2藕漱,設(shè)置naming rule欲侮,blackbox之類;3肋联,讀Lib锈麸;4,設(shè)置約束(dft相關(guān)的東西)牺蹄;5忘伞,設(shè)置system_mode以及compare之類的(R2N和N2N稍有區(qū)別);6沙兰,產(chǎn)生report氓奈。