測(cè)試什么時(shí)候結(jié)束合適呢？
一季春、基于測(cè)試用例的規(guī)則
? 先構(gòu)造測(cè)試用例（并請(qǐng)有關(guān)人員進(jìn)行評(píng)審）洗搂。
? 在測(cè)試過(guò)程中，當(dāng)測(cè)試用例的不通過(guò)率達(dá)到20％時(shí)载弄，則拒絕繼續(xù)測(cè)試耘拇，待開(kāi)發(fā)人員修正軟件后再進(jìn)行測(cè)試。
? 當(dāng)功能性測(cè)試用例通過(guò)率達(dá)到100％宇攻，非功能性測(cè)試用例通過(guò)率達(dá)到90％時(shí)惫叛，允許正常結(jié)束測(cè)試。
? 該規(guī)則的優(yōu)點(diǎn)是適用于所有的測(cè)試階段逞刷，缺點(diǎn)是太依賴于測(cè)試用例嘉涌。如果測(cè)試用例非常糟糕，那么該規(guī)則就失效了夸浅。
二仑最、基于“測(cè)試期缺陷密度”的規(guī)則
? 把測(cè)試一個(gè)CPU小時(shí)發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)稱(chēng)為“測(cè)試期缺陷密度”。
? 繪制“測(cè)試時(shí)間－缺陷數(shù)”的關(guān)系圖题篷，如果在相鄰n個(gè)CPU小時(shí)內(nèi)“測(cè)試期缺陷密度”全部低于某個(gè)值m時(shí)词身，則允許正常結(jié)束測(cè)試厅目。例如n大于10番枚，m小于等于1。
? 該規(guī)則比較適用于系統(tǒng)測(cè)試階段损敷。
三葫笼、基于“運(yùn)行期缺陷密度”的規(guī)則
? 把軟件運(yùn)行一個(gè)CPU小時(shí)發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)稱(chēng)為“運(yùn)行期缺陷密度”。
? 繪制“運(yùn)行時(shí)間－缺陷數(shù)”的關(guān)系圖拗馒，如果在相鄰n個(gè)CPU小時(shí)內(nèi)“運(yùn)行期缺陷密度”全部低于某個(gè)值m時(shí)路星，則允許正常結(jié)束測(cè)試。例如n大于100，m小于等于1洋丐。
? 該規(guī)則比較適用于驗(yàn)收測(cè)試階段呈昔，即客戶試運(yùn)行軟件期間。
