在用非ARC模式編寫iOS程序的時(shí)候凿滤，造成程序內(nèi)存泄露在所難免拔创，后期我們一般會進(jìn)行內(nèi)存優(yōu)化。自己比較常用的內(nèi)存優(yōu)化方法有兩種
1、Analyze胖缤，靜態(tài)分析內(nèi)存泄露的方法尚镰。很簡單，在Xcode菜單欄中點(diǎn)擊 ”Product“ -> "Analyze",編譯完成后項(xiàng)目工程中可能造成內(nèi)存泄露的代碼就會被標(biāo)記出來哪廓，這樣我們就可以有針對性的更改代碼優(yōu)化內(nèi)存了狗唉。
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2、使用Xcode的自帶工具Leaks涡真，動態(tài)的檢測內(nèi)存泄露分俯。一般步驟如下。
1>在Xcode菜單欄中點(diǎn)擊 ”Product“ -> "Profile"（如圖1-1）哆料，彈出instruments窗口如圖1-2
圖1
圖2
2>在instruments窗口中點(diǎn)擊 ”Leaks“（如圖1-2）,一般Leaks就開始自動檢測項(xiàng)目內(nèi)存泄露的地方了缸剪，在此過程中可以對手機(jī)上運(yùn)行的測試工程進(jìn)行操作，如圖1-3东亦，Leaks 后出現(xiàn)的紅色 柱形表示有內(nèi)存泄露杏节。
圖3
3>雙擊如圖1-4中出現(xiàn)類名，就會顯示出此類此方法中造成內(nèi)存泄露的代碼了如圖1-5典阵，然后我們就可以有針對性的優(yōu)化代碼奋渔、優(yōu)化內(nèi)存了
圖4
在這里使用Leaks時(shí)，沒有具體介紹Leaks的一些其他設(shè)置及技巧壮啊，小伙伴們可以自己在使用的過程中試一試....
