常用的光學(xué)元件外觀標(biāo)準(zhǔn)有兩個(gè)恕出，一個(gè)是ISO10110/7唉铜，為較多歐資企業(yè)使用筷屡，另一個(gè)是MIL-STD13830B芜辕，為較多美資企業(yè)使用尚骄。
雖然這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)都定義了光學(xué)元件的點(diǎn)子與劃痕缺陷級別，并且也都有標(biāo)準(zhǔn)比對板侵续，但它們在判斷方法上還是有明顯區(qū)別倔丈。
ISO10110/7對點(diǎn)子和劃痕缺陷的不同等級作了客觀定義，也就是說當(dāng)對缺陷合不合格有爭議時(shí)状蜗，除了可以通過對照比對板作主觀判斷外需五，還可以根據(jù)缺陷的實(shí)測尺寸，確定缺陷等級轧坎，因此判斷比較客觀宏邮。
而MIL-STD13830B標(biāo)準(zhǔn)對點(diǎn)子和劃痕的等級則作了不同的規(guī)定。點(diǎn)子的判斷是可以定量測量的缸血，但劃痕的評判卻不可以根據(jù)劃痕的長寬尺寸來確定蜜氨，必須在相同觀測條件下對照比對板，若待測表面劃痕導(dǎo)致的雜散光強(qiáng)于指定的比對板劃痕等級的雜散光時(shí)則判為不良属百，因此劃痕只能是一種主觀的定性判斷记劝，更加依賴于檢驗(yàn)者的經(jīng)驗(yàn)变姨，爭議也更多族扰。但這種判斷方法的優(yōu)點(diǎn)在于考慮了劃痕深度的影響，因此也更加貼近應(yīng)用時(shí)的實(shí)際情況定欧。
