在單元階段主要用白盒測(cè)試，集成階段用白盒為主黑盒為輔，確認(rèn)測(cè)試階段黑盒測(cè)試為主，白盒測(cè)試為主脉执，系統(tǒng)測(cè)試階段主要用黑盒測(cè)試
1.按照開(kāi)發(fā)階段劃分
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上一個(gè)單元的測(cè)試準(zhǔn)出條件是下一個(gè)單元的測(cè)試準(zhǔn)入條件
準(zhǔn)出條件：所有的單元模塊都按照測(cè)試要求完成測(cè)試
- 單元測(cè)試
詳細(xì)設(shè)計(jì)文檔產(chǎn)生單元測(cè)試方案
- 集成測(cè)試
概要設(shè)計(jì)方案產(chǎn)生集成測(cè)試方案
1.測(cè)試接口
2.調(diào)用的合理性
- 確認(rèn)測(cè)試
確認(rèn)當(dāng)前軟件的所有功能都按照需求文檔實(shí)現(xiàn)
- 系統(tǒng)測(cè)試
兼容測(cè)試
應(yīng)用性測(cè)試
- 驗(yàn)收測(cè)試
a.α測(cè)試（內(nèi)測(cè)）：由公司內(nèi)部人員扮演用戶角色（除開(kāi)發(fā)人員外）來(lái)完成的驗(yàn)收測(cè)試
b.β測(cè)試（公測(cè)）：由實(shí)際用戶完成的驗(yàn)收測(cè)試
確認(rèn)產(chǎn)品能否發(fā)布
2.按照測(cè)試技術(shù)劃分
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- 黑盒測(cè)試
主要關(guān)注輸入和輸出的對(duì)應(yīng)關(guān)系
- 白盒測(cè)試
關(guān)注代碼內(nèi)部的邏輯結(jié)構(gòu)與路徑是否準(zhǔn)確
- 灰盒測(cè)試
wed測(cè)試
