首先员串，產(chǎn)品在生命周期預(yù)測(cè)和測(cè)試中，存在著諸多的內(nèi)外在影響因素伶椿，所以精確的預(yù)測(cè)和控制產(chǎn)品生命周期在可行性上存在著諸多難題再芋。
歐美在消費(fèi)品等產(chǎn)品安全和質(zhì)量管理方面菊霜，更多的采用產(chǎn)品生命周期的概念。產(chǎn)品生命周期定義可以細(xì)分為
可預(yù)見的產(chǎn)品生命周期济赎、實(shí)際產(chǎn)品生命周期等鉴逞。對(duì)于產(chǎn)品生命周期的預(yù)估，一般可以通過測(cè)試司训、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)算法构捡，進(jìn)行建模分析，常見的MTBF,
威布爾分布是測(cè)試和建模分析工具壳猜。
在可靠性測(cè)試方面勾徽，IEC 60068是電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)的系列標(biāo)準(zhǔn)⊥嘲猓可靠性測(cè)試相關(guān)項(xiàng)目和標(biāo)準(zhǔn)清單喘帚，可以參考文章結(jié)尾引述。
歐盟在EU Blue guide和風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估方法論中提到在整個(gè)可預(yù)見的產(chǎn)品生命周期內(nèi)要進(jìn)行評(píng)估可能發(fā)生的風(fēng)險(xiǎn)類型咒钟、概率吹由、嚴(yán)重程度和影響。
具體到特殊的產(chǎn)品類別朱嘴，例如家電安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)60335會(huì)對(duì)關(guān)鍵元器件的耐久性有要求倾鲫，例如開關(guān)、溫控器、繼電器要滿足最低的耐久要求乌昔，吸塵器的電源線要滿足拉伸等耐久測(cè)試隙疚，電水壺要滿足插拔等耐久測(cè)試，這些屬于強(qiáng)制安全要求磕道。
在性能和能效法規(guī)中甚淡，也對(duì)部分產(chǎn)品有要求，例如吸塵器的666/2013 EU指令中捅厂，電機(jī)的功能要滿足500小時(shí)，軟管要求滿足40000次搖擺測(cè)試资柔。這些也屬于強(qiáng)制性要求焙贷。
ISO 14001則從環(huán)境保護(hù)的角度對(duì)產(chǎn)品生命周期有所要求，但是A6.1.2也提出贿堰，ISO 14001體系管理評(píng)估也并不要求做出詳細(xì)的生命周期評(píng)估辙芍。
在歐盟性能和環(huán)保相關(guān)法規(guī)中，一般會(huì)要求制造商提供技術(shù)文件羹与，說明產(chǎn)品在產(chǎn)品生命周期結(jié)束后故硅，如何去拆解、循環(huán)和處理廢棄產(chǎn)品纵搁。
美國在醫(yī)療器械方面管理方面吃衅，F(xiàn)DA草案提出通過文件記錄保存時(shí)間來控制產(chǎn)品在使用后的安全和質(zhì)量管理，ISO
13485第4.2.3章節(jié)和4.2.4章節(jié)要求保存產(chǎn)品生命周期內(nèi)的記錄腾誉，在ISO/TR
14969中則給出了建議徘层，如何對(duì)產(chǎn)品生命周期進(jìn)行文件建檔，以及如何去判定產(chǎn)品生命周期利职。
產(chǎn)品生命周期的概念和保修期的概念不同趣效，例如在歐盟、德國一般對(duì)家電等消費(fèi)品沒有強(qiáng)制性法規(guī)要求保修期猪贪，產(chǎn)品的保修期由制造商跷敬、品牌商提供，作為一種對(duì)消費(fèi)者權(quán)益保障的市場(chǎng)行為热押。對(duì)于部分商品西傀，保修期也可以通過購買延長保修期服務(wù)。在德國如果使用6個(gè)月以上楞黄，產(chǎn)品出現(xiàn)故障池凄，一般消費(fèi)者需要證明是產(chǎn)品本身缺陷，而不是故意損壞產(chǎn)品導(dǎo)致產(chǎn)品出現(xiàn)問題鬼廓。
產(chǎn)品在出現(xiàn)故障后肿仑，制造商或其售后維修人員通過維修、替換貨等方法延長產(chǎn)品使用壽命。
當(dāng)然尤慰，如果有產(chǎn)品或其部件無法證明滿足強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)和法規(guī)要求馏锡，那么制造商存在著合規(guī)風(fēng)險(xiǎn)。
可靠性檢測(cè)項(xiàng)目包括：
自然環(huán)境可靠性測(cè)試：高溫伟端、低溫杯道、溫度沖擊、溫度循環(huán)责蝠、濕度党巾、恒定濕熱、交變濕熱霜医、鹽霧試驗(yàn)等;
動(dòng)力環(huán)境可靠性測(cè)試：振動(dòng)試驗(yàn)齿拂、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)肴敛、運(yùn)輸包裝試驗(yàn)等;
戶外環(huán)境可靠性測(cè)試：太陽輻照署海、熒光紫外、霉菌医男、腐蝕氣體砸狞、外殼防護(hù)等級(jí)、沙塵镀梭、淋雨刀森、凝露等
綜合環(huán)境可靠性測(cè)試：兩綜合試驗(yàn)(振動(dòng)-溫度、振動(dòng)-濕度)丰辣、三綜合試驗(yàn)(振動(dòng)-溫度-濕度)
壽命測(cè)試：高溫工作壽命試驗(yàn)撒强、低溫工作壽命試驗(yàn)、耐久性試驗(yàn)等;?? 加速壽命測(cè)試 ：加速壽命試驗(yàn)(ALT)笙什、高加速壽命試驗(yàn)(HALT)等;
可靠性篩選試驗(yàn)：環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)飘哨、高加速應(yīng)力篩選 HASS等;
可靠性鑒定、驗(yàn)收試驗(yàn)：可靠性鑒定試驗(yàn)琐凭、可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)芽隆。
氣候環(huán)境類測(cè)試：
高溫測(cè)試GB/T 2423.2 IEC 60068-2-2 EIA-364-17
低溫測(cè)試GB/T 2423.1 IEC 60068-2-1 EIA-364-59
快速溫變測(cè)試GB/T 2423.22 IEC60068-2-14
冷熱沖擊測(cè)試GB/T 2423.22 IEC60068-2-14 EIA-364-32 …
恒溫恒濕測(cè)試GB/T 2423.3 IEC 60068-2-78 MIL-STD-202
溫度變化測(cè)試GB/T 2423.22 IEC60068-2-14
交變濕熱GB/T 2423.4 IEC 60068-2-30
溫濕度組合循環(huán)測(cè)試GB/T 2423.34 IEC60068-2-38 MIL-STD-202
鹽霧測(cè)試GB/T 2423.17 IEC 60068-2-11 GB/T 10125 …
IP等級(jí)測(cè)試IEC 60529 GB/T 4208 IEC 60598
UV測(cè)試ISO 4892.3 GB/T 16422.3 ASTM G 154 …
氙燈測(cè)試ISO 4892.2 GB/T 16422.2 ASTM G 155 …
氣體腐蝕測(cè)試EIA-364-65 GB/T 2423.51 IEC 60068-2-60 …
低氣壓測(cè)試GB/T 2423.21 IEC 60068-2-13
臭氧老化測(cè)試GB/T 7762 ISO 1431-1
高壓蒸煮測(cè)試JESD22-A102-C JESD22-A110B JESD22-A118
機(jī)械類測(cè)試：
振動(dòng)測(cè)試GB/T 2423.56 IEC 60068-2-64 ASTM D4728 …
沖擊測(cè)試GB/T2423.5 IEC60068-2-27 EIA-364-27 …
碰撞測(cè)試IEC 60068-2-27 GB/T 2423.6 GB/T 4857.20
跌落測(cè)試GB/T 2423.8 ISO 2248 GB/T 4857.5?? RCA
紙帶摩擦測(cè)試ASTM F 2357
酒精，橡皮统屈，鉛筆摩擦測(cè)試GB/T 6739 ASTM D 3363
接觸電阻測(cè)試EIA-364-23 EIA-364-06 MIL-STD-202
絕緣電阻測(cè)試EIA-364-21 MIL-STD-202
耐電壓測(cè)試EIA-364-20 MIL-STD-202
劃格測(cè)試ASTM D 3359
插拔力測(cè)試EIA-364-13
耐久性測(cè)試EIA-364-09
線材搖擺測(cè)試EIA-364-41
綜合類測(cè)試:
三綜合測(cè)試GB/T 2423.35 GB/T 2423.36?? HALT/HASS/
包裝產(chǎn)品ISTA測(cè)試1A,1B,1C,1D,2A,2B,2D,2E
GB/T 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊
GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞
GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落
GB/T 2423.9-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)
GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—一般要求
GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—高再現(xiàn)性
GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—中再現(xiàn)性
GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda: 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—低再現(xiàn)性
GB/T 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則:長霉
GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka;鹽霧試驗(yàn)方法
GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)Kb:鹽務(wù),交變(氯化鈉溶液)
GB/T 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法
GB/T 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
GB/T 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q:密封
GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輔射
GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)T:錫焊試驗(yàn)方法
GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度
GB/T 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬
GB/T 2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
GB/T 2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法
GB/T 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法
GB/T 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/Afc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法
GB/T 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)ZBFc: 散熱和非散熱樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法
GB/T 2423.371989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)L:砂塵試驗(yàn)方法
GB/T 2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法
GB/T 2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ee:彈跳試驗(yàn)方法
GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法
GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法
GB/T 2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 元件\設(shè)備和其它產(chǎn)品在沖擊(Ea)胚吁、碰撞（Eb）、振動(dòng)（Fc和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則
GB/T 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eg：撞擊 彈簧錘
GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序
GB/T 2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ef：撞擊 擺錘
GB/T 2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fg：聲振
GB/T 2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff：振動(dòng)—時(shí)間歷程法
GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe：振動(dòng)—正弦拍頻法
GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)
GB/T 2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ke：流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)
GB/T 2423.52-2003 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)77:結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊
GB/T 2423.53-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Xb:由手的摩擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損
GB/T 2423.54-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Xc：流體污染
GB/T 2423.55-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 環(huán)境測(cè)試 試驗(yàn)Eh：錘擊試驗(yàn)
