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IP屬地:山東
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簡(jiǎn)介卡方檢驗(yàn)是一種用途非常廣泛的假設(shè)檢驗(yàn)方法鲸阔,在統(tǒng)計(jì)推斷中使用非常多偷霉,可以檢測(cè)多個(gè)分類變量之間的相關(guān)性是否顯著。 基本原理卡方檢驗(yàn)就是統(tǒng)計(jì)樣本的實(shí)際觀測(cè)值和理論推斷值之間的偏...