本篇主要講解android內(nèi)存性能優(yōu)化之檢測(cè)方案汗销。內(nèi)存性能主要包括內(nèi)存泄漏歧匈， 內(nèi)存抖動(dòng)纠吴， 內(nèi)存持續(xù)增長(zhǎng)(但GC后會(huì)下降)眶蕉， 內(nèi)存占用過(guò)大等問(wèn)題矮瘟。 Android內(nèi)存分析方向：...
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Android 性能優(yōu)化&內(nèi)存篇