The master has failed more times than the beginner has tried.<br>
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Android性能優(yōu)化第(二)篇---Memory Monitor檢測內(nèi)存泄露版權(quán)聲明:本文為LooperJing原創(chuàng)文章愕掏,轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處贷祈! 上篇說了一些性能優(yōu)化的理論部分趋急,主要是回顧一下,有了理論势誊,小平同志又講了呜达,實(shí)踐是檢驗(yàn)真理的唯一標(biāo)準(zhǔn),對(duì)于內(nèi)存泄...