首先要區(qū)別是什么物質(zhì)的XRD圖譜射众，比如單晶诀紊、多晶（粉末）等.
峰高：
對(duì)多晶來(lái)說(shuō)垦垂，峰高由同方向排列的晶面分布數(shù)量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列带饱，則此時(shí)各個(gè)晶面的峰高要大于無(wú)規(guī)律排列的晶粒. 而同一圖譜中不同峰高則是由每個(gè)峰對(duì)應(yīng)的晶面數(shù)量決定.
另外瞬测，如果樣品不為純晶體，而同時(shí)存在非晶體的情況下纠炮，不同XRD圖像同一位置角度對(duì)應(yīng)的 ， 峰高不同則反映了晶體成分的多少.
晶體化程度越高灯蝴，相應(yīng)的峰越高.
峰寬：
一般分析最多的數(shù)值是FWHM(半峰全寬).
峰寬受很多因素影響：從儀器角度說(shuō)恢口，因素為所用X射線的波長(zhǎng)分布，即使是單色X射線也不完全只有唯一確定波長(zhǎng)穷躁； 從多晶樣品角度說(shuō)耕肩，F(xiàn)WHM和晶粒大小成反比，即问潭，晶粒直徑越小對(duì)應(yīng)的FWHM越大, 具體計(jì)算可以參考Scherrer equation.
峰面積：也稱(chēng)為integral intensity.
這個(gè)值同樣不是由某單一值決定猿诸，和樣品本身相關(guān)的量有：該峰對(duì)應(yīng)晶面的數(shù)量，晶胞體積狡忙，晶粒體積梳虽，structure factor等.
